Les techniques de gestion dynamique de la tension (DVS) sont principalement utilisés dans la conception de circuits numériques pour en améliorer l'efficacité énergétique. Cependant, la réduction de la tension d'alimentation augmente l'impact de la variabilité et des erreurs temporelles dans les technologies nano-métriques. L'objectif principal de cette thèse est de gérer les erreurs temporelles et de formuler un cadre pour estimer la consommation d'énergie d'applications résistantes aux erreurs dans le contexte du régime proche du seuil (NTR) des transistors. Dans cette thèse, la détection et la correction d'erreurs basées sur la spéculation dynamique sont explorées dans le contexte de l'adaptation de la tension et de la fréquence d‘horloge. Outre la détection et la correction des erreurs, certaines erreurs peuvent être également tolérées et les circuits peuvent calculer au-delà de leurs limites avec une précision réduite pour obtenir une plus grande efficacité énergétique. La méthode de détection et de correction d'erreur proposée atteint 71% d'overclocking avec seulement 2% de surcoût matériel. Ce travail implique une étude approfondie au niveau des portes logiques pour comprendre le comportement des portes sous l'effet de modification de la tension d'alimentation, de la tension de polarisation et de la fréquence d'horloge. Une approche ascendante est prise en étudiant les tendances de l'énergie par rapport a l'erreur des opérateurs arithmétiques au niveau du transistor. En se basant sur le profilage des opérateurs, un flot d'outils est formulé pour estimer les paramètres d'énergie et d'erreur pour différentes configurations. Nous atteignons une efficacité énergétique maximale de 89% pour les opérateurs arithmétiques comme les additionneurs 8 bits et 16 bits au prix de 20% de bits défectueux en opérant en NTR. Un modèle statistique est développé pour que les opérateurs arithmétiques représentent le comportement des opérateurs pour différents impacts de variabilité. Ce modèle est utilisé pour le calcul approximatif dans les applications qui peuvent tolérer une marge d'erreur acceptable. Cette méthode est ensuite explorée pour unité d'exécution d'un processeur VLIW. L'environnement proposé fournit une estimation rapide des indicateurs d'énergie et d'erreurs d'un programme de référence par compilation simple d'un programme C. Dans cette méthode d'estimation de l'énergie, la caractérisation des opérateurs se fait au niveau du transistor, et l'estimation de l'énergie se fait au niveau fonctionnel. Cette approche hybride rend l'estimation de l'énergie plus rapide et plus précise pour différentes configurations. Les résultats d'estimation pour différents programmes de référence montrent une précision de 98% par rapport à la simulation SPICE.