Lors de la conception d'un objet électronique, la sécurité est à prendre en considération. En effet, les sources de vulnérabilité peuvent être multiples, ainsi que les moyens de les exploiter. En particulier, nous nous intéressons à l'injection de fautes. Ces attaques consistent à perturber certains signaux d'un circuit (comme l'alimentation) afin de modifier son comportement. Que ce soit pour développer des contremesures ou des attaques efficaces, il est nécessaire de comprendre l'impact global des fautes sur un circuit intégré. L'injection de fautes électromagnétiques impacte plusieurs signaux à la fois, et donc son étude peut se révéler complexe. Cette thèse vise à étudier un effet en particulier des fautes électromagnétiques, les perturbations synchrones de l'horloge. Ce type de perturbation a été utilisé avec succès pour contourner des mesures de sécurité. Pourtant, une analyse de bout en bout n'a jamais été explorée. Dans un premier temps, nous explorons leur effet sur les bascules et leur échantillonnage, ce qui nous permet de déduire un nouveau modèle de faute. Dans un second temps, notre intérêt se porte sur l'effet des perturbations sur la microarchitecture. Nos buts sont multiples : faire le lien entre les paramètres d'injection et les différents effets observés, identifier les parties vulnérables du processeur, faire le lien avec le modèle de faute bas niveau. Ces deux contributions permettent d'améliorer la compréhension des effets de l'injection de fautes, notamment électromagnétiques, à divers niveaux d'abstraction.